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MAXXI6镀层测厚仪

MAXXI6镀层测厚仪

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  • 发布日期:2018/01/11
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详细介绍

特点:

·         镀层测厚仪MAXXI 6提供高性能、快速可靠无损的镀层厚度测量及材料分析,确保产品质量的一致性和高品质。

·         高分辨率的硅漂移器(SDD)

·         开槽式超大样品舱设计

·         8个准直器

·         USB接口与计算机连接

·         我们的镀层测厚仪是基于X射线荧光光谱分析技术,该技术已被普遍认可并且得到广泛应用,可以在无需样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。镀层测厚仪 MAXXI 6 配备多准直器系统及超大样品舱,针对较薄而复杂的样品,具有完美的解决方案MAXXI可分析固体和液体,元素范围包括从元素周期表中13Al 到92U

·         采用微聚焦X射线光管,实现高精度、高可靠性、测量时间短、购置成本低

·         采用高分辨率的硅漂移探测器(SDD),提供能量级别的最佳效率,极低的检出限(LOD)

·         多准直器可优化不同尺寸样品荧光信号产额,提高测量效率

·         开槽式超大样品舱设计,十分适合电路板或其他超大平板样品

·         “USB接口”只需通过USB与计算机连接,无需额外的硬件或软件

·         德国制造,符合最高工程标准,坚固耐用的设计可实现长期可靠性

·         通过PTB(Physikalisch Technische Bundesanstalt)认证,满足最高辐射安全标准

性能及符合性

·         最多同时测定5层,15种元素及共存元素的校正

·         同时实现多于25种元素的定量分析

·         检测方法通过ISO 3497, ASTM B568, DIN 50987和IEC 62321等认证


本文网址:/product/558.html

关键词:昆山卓尔信电子有限公司,牛津仪器,MAXXI6镀层测厚仪

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